一种固态硬盘的老化测试方法

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一种固态硬盘的老化测试方法
申请号:CN202511341321
申请日期:2025-09-19
公开号:CN120823874A
公开日期:2025-10-21
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种固态硬盘的老化测试方法,包括以下步骤:S1.利用高温环境加速固态硬盘的老化,对固态硬盘进行存储速度与读取速度的检测;S2.构建基于存储速度和读取速度的固态硬盘老化数据集;S3.对于同一型号的多个固态硬盘,得到老化测试训练集;S4.通过神经网络构建分类器模型,利用步骤S3中得到的老化测试训练集对构建的分类器模型进行训练,得到老化测试模型;S5.对于未知老化等级的固态硬盘,测试存储速度向量与读取速度向量构建测试样本特征,由老化测试模型输出老化程度等级。本发明能够获得不同老化程度的测试数据,并且通过训练分类模型,在实际测试时,只需要检测存储速度和读取速度,就可以实现固态硬盘的老化等级。
技术关键词
固态硬盘 老化测试方法 高温老化测试 速度 构建分类器 分类器模型 训练分类模型 训练集 样本 数据 处理器 常温 标签
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