一种裂纹故障叶片改进优化方法

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一种裂纹故障叶片改进优化方法
申请号:CN202511347537
申请日期:2025-09-19
公开号:CN120974660A
公开日期:2025-11-18
类型:发明专利
摘要
本发明涉及叶片优化领域,具体涉及一种裂纹故障叶片改进优化方法;获取裂纹的尺寸和位置信息;将裂纹尺寸小于第一阈值的裂纹排除,筛选得到第一优化裂纹;构建叶片的三维模型,并对叶片的三维模型进行有限元分析,获取叶片的第一数据;构建裂纹叶片模型;对裂纹叶片模型进行有限元分析,得到第二数据;将第二数据与第一数据进行对比,筛选得到第二优化裂纹;对第二优化裂纹所在区域在叶片的三维模型进行叶片型线的改进,输出改进后的模型;对改进后的模型进行有限元分析,得到第三数据;将第三数据与第一数据进行对比,完成改进优化,本发明方法极大缩短了传统研制周期,降低了因多次试制带来的高成本问题。
技术关键词
裂纹故障 叶片 三维模型 裂纹尺寸 数据 应力 存储计算机程序 优化设备 处理器 分析模块 可读存储介质 存储器 短轴 长轴 基准 周期
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