基于光电检测技术的异纤清除机杂质检测方法

本发明提供了基于光电检测技术的异纤清除机杂质检测方法，属于数据处理领域，该方法包括：获取若干截取区间；根据不同截取区间内待检测信号的分布差异，得到每一截取区间的异常因子；对每一截取区间内的待检测信号进行聚类，得到每一截取区间内正常聚类簇与正常信号范围的上界与下界；结合每一截取区间与其他截取区间的异常因子的差异，得到正常信号范围的最终上界与最终下界；根据每一截取区间内待检测信号的分布，得到每一截取区间的待清除程度。本发明旨在解决通过K‑means聚类算法对异纤进行清除时，每加入一个新的数据，需要对所有数据进行聚类，从而对新数据进行异常确认，导致检测效率过低的问题。