一种基于激光自混合干涉的颗粒物检测系统

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推荐专利
一种基于激光自混合干涉的颗粒物检测系统
申请号:CN202511349831
申请日期:2025-09-22
公开号:CN120869900B
公开日期:2025-12-05
类型:发明专利
摘要
本发明涉及颗粒物检测技术领域,公开了一种基于激光自混合干涉的颗粒物检测系统,包括:激光发射装置,用于发射激光束,通过激光束照射颗粒物;聚焦透镜,用于将激光束聚焦于颗粒物;信号采集装置,设置于激光发射装置内部,用于接收颗粒物的反射光束;信号处理装置,连接于所述信号采集装置,用于根据颗粒物的反射光束确定自混合干涉信号,并对自混合干涉信号进行数据处理,根据数据处理后的自混合干涉信号确定颗粒物信息。通过对颗粒物的自混合干涉信号进行检测,有效提升了数据检测效率,增强了颗粒物信号检测的精准度。
技术关键词
颗粒物检测系统 激光自混合干涉 异常数据检测 激光发射装置 信号采集装置 信号处理装置 激光束 颗粒物检测技术 训练样本集 序列 聚焦透镜 滑动平均滤波 LOF算法 初始聚类中心 滑动滤波
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沪ICP备2023015588号