一种光综合测试平台的高并行测试方法

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推荐专利
一种光综合测试平台的高并行测试方法
申请号:CN202511350371
申请日期:2025-09-22
公开号:CN120856222B
公开日期:2025-11-28
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种光综合测试平台的高并行测试方法,涉及有源光测试领域,通过 N 个独立测试通道实现多被测对象或多测试项目的并行测试,避免了传统串行测试的等待时间,结合平台高并行的特性,能有效提升制造效率,动态资源调度基于实时监测的通道资源状态分配任务,避免资源闲置,配合平台高集成特点,多种模块共享平台,有效分摊成本,提升设备整体利用率,硬件架构中各通道集成的光功率计、可调光衰减器等模块支持热插拔,且任务解析算法可灵活映射测试项目,适配不同被测对象需求,符合平台随需配、易扩展的优势,能保护投资并适应测试场景的动态变化,分布式数据采集机制同步获取各通道数据,为生成可靠测试报告提供支撑。
技术关键词
综合测试平台 并行测试方法 智能映射模型 可调光衰减器 分布式数据采集 通道 资源调度策略 资源占用状态 动态资源调度 状态实时监测 解析算法 光功率计 对象 生成测试报告 误码仪 并行特征 背板总线 光开关 传输接口
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