基于光泽度分析的铜箔抗氧化性检测方法及系统

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基于光泽度分析的铜箔抗氧化性检测方法及系统
申请号:CN202511358120
申请日期:2025-09-23
公开号:CN120870061B
公开日期:2025-12-26
类型:发明专利
摘要
本发明属于铜箔抗氧化性检测分析技术领域,公开了基于光泽度分析的铜箔抗氧化性检测方法及系统,如下:获取不同抗氧化性等级的铜箔样本的光泽度衰减标准曲线;根据拐点位置,将光泽度衰减标准曲线划分得到不同氧化阶段以及光泽度变化范围;获取待测铜箔的待测光泽度衰减曲线;获取所有光泽度衰减标准曲线中与待测光泽度衰减曲线相似度最高的光泽度衰减标准曲线,根据其与待测光泽度衰减曲线在同一氧化阶段的光泽度变化范围,计算待测铜箔在不同氧化阶段的第一缺陷影响程度;对第一缺陷影响程度进行修正,得到第二缺陷影响程度,以此计算待测光泽度衰减曲线与所有光泽度衰减标准曲线的最终相似度;根据最终相似度划分待测铜箔的抗氧化性等级。
技术关键词
曲线 阶段 样本 铜箔表面 DWT算法 测量点 检测分析技术 DTW算法 模块 速率
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