一种探针和异形测试片组合使用的测试装置及方法

本发明涉及芯片测试技术领域，具体地说，涉及一种探针和异形测试片组合使用的测试装置及方法。测试装置包括主板以及电性连接在主板上的第一接触件、第二接触件和第三接触件，所述第一接触件、第二接触件和第三接触件共同接触管脚，用于分摊电流；该探针和异形测试片组合使用的测试装置及方法中，通过在原有测试片的基础上增加了第三接触件，测试片在常态下与管脚处于非接触状态，只有当管脚压动第三接触件收缩时，通过第三接触件的收缩作为驱动测试片将管脚夹紧的依据，使管脚不会与测试片产生摩擦。并且，第三接触件与管脚存在接触，管脚也可以分摊测试片的电流，提高了承载能力，实现对芯片的多种类测试。