一种自适应条纹投影模式的PMD三维测量方法

本发明公开了一种自适应条纹投影模式的PMD三维测量方法。本发明首先基于被测镜面元件表面形貌特征，获取其在相机视角下的相位梯度分布；其次根据所述相位梯度分布，自适应地调制投射条纹的局部周期，使得经被测表面反射后在相机成像面上形成的结构光条纹整体保持均匀且稀疏适度；然后利用自适应条纹图案进行投影并采集经被测表面调制的条纹图像，建立相机像素与投影像素之间的对应关系；最后通过光线追迹重建被测镜面元件的三维形貌。本发明根据被测表面的反射光的角度变换特性，自适应调整投射屏上条纹局部疏密程度，以确保相机视角中所测结构光条纹分布均匀且稀疏合适，从而实现在保证形貌解析完整性的情况下最大化PMD测量精度。