一种基于机器视觉的芯片外观缺陷自动检测设备

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一种基于机器视觉的芯片外观缺陷自动检测设备
申请号:CN202511380995
申请日期:2025-09-25
公开号:CN120908193A
公开日期:2025-11-07
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种基于机器视觉的芯片外观缺陷自动检测设备,具体涉及芯片检测设备领域,包括固定框,所述固定框的顶部内壁固定连接有固定顶架,所述固定顶架的中部通过轴承连接有中心杆,所述中心杆的底端固定连接有转动盘,所述转动盘的边缘处等距排列设置有角度偏移机构,所述角度偏移机构包括条形槽、旋转轴、伸缩杆、侧边相机、固定块、阻尼弹簧、推动块和滚轮,所述转动盘的底部中心处设置有中心座,所述中心座的底端固定连接有中心相机;本申请通过转动盘转动的同时能够带动角度偏移机构进行转动,使得在进行转动过程中侧边相机能够进行不同角度的偏移,配合旋转运动实现对芯片外观的多角度检测。
技术关键词
缺陷自动检测设备 偏移机构 传送架 阻尼弹簧 中心座 视觉 联动轴 顶架 辅助轴 驱动盒 数据处理器 芯片检测设备 联动齿轮 相机 锥齿轮 旋转轴 轴承 伺服电机
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