芯片测试装置、方法和系统

本发明公开了一种芯片测试装置、方法和系统，芯片测试装置包括：标准测试单元，用于提供与标准芯片对应的标准功能响应；待测单元，包括第一可编程逻辑器件，其配置为用于载入待测芯片的硬件描述逻辑；连接单元，包括第二可编程逻辑器件，其管脚分别与标准测试单元和待测单元的对应管脚电气连接；连接单元配置为：响应于来自标准测试单元发送的测试指令，动态建立待测单元与标准测试单元之间的信号链路，以实现对待测芯片的验证测试。该测试装置利用具有信号解析能力的连接单元，并基于解析结果能够动态的信号链路，能减少人工参与物理连接改动的工作量，降低因人工操作可能引入的误差和故障风险，提供测试验证的自动化程度。