NAND闪存读取电压轴预测方法及装置、存储介质

本申请公开了一种NAND闪存读取电压轴预测方法及装置、存储介质，方法包括对不同类型的NAND在不同工况下进行特性测试，获取对应的电压轴数据及其特性参数；对所获取的数据进行清洗，并进行归一化处理；构建包含第一GRU分支和第二GRU分支的GRUM模型，交叉融合形成最终的GRUM预测模型，获取目标NAND闪存的实际编程/擦除周期和实际数据保留时间，输入最终的GRUM预测模型进行预测，输出目标NAND闪存的最佳读取电压轴预测值。本申请能够更好地捕捉和处理NAND闪存数据的非线性关系和时空依赖性，从而提高了预测的准确性。