芯片测试夹具及芯片测试组件

本申请公开一种芯片测试夹具及芯片测试组件，涉及芯片测试技术领域。该芯片测试夹具包括层叠设置且滑动连接的第一针板和第二针板，所述第一针板上设置有贯通孔，所述第二针板上设置有与负载板电连接的探针，待测芯片放置于所述第一针板上，且所述待测芯片的引脚穿过所述贯通孔朝向远离所述第一针板的一侧延伸，所述第一针板受驱相对所述第二针板沿第一方向滑动，以使所述引脚与所述探针抵接。该芯片测试夹具既能保证芯片测试夹具与不同引脚规格的芯片精准对接，又能保证接触时的稳定性。