基于单光子探测的光强测量方法、装置及电子设备

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推荐专利
基于单光子探测的光强测量方法、装置及电子设备
申请号:CN202511387624
申请日期:2025-09-26
公开号:CN120907663A
公开日期:2025-11-07
类型:发明专利
摘要
本申请提供了一种基于单光子探测的光强测量方法、装置及电子设备,涉及单光子探测与激光雷达成像技术领域,包括针对每一探测位置,采集多个单光子探测事件中光子的到达时间信息;基于到达时间信息提取与光强估计相关的时序特征量;基于时序特征量构建用于估计目标光强的模型输入参数;将模型输入参数输入至光强估计模型中,预测目标光强的光强估计值;根据光强估计值生成对应的光强分布图像。本申请仅需少数光子即可实现高精度光强估计,大幅降低对重复探测次数和信背比的要求,增强了成像鲁棒性。
技术关键词
光强 时序特征 光子到达时间 测量方法 计算机可执行指令 参数估计模型 激光雷达成像技术 光子探测装置 数据驱动方式 噪声统计特性 探测系统 多通道并行 探测视场 电子设备 处理器 可读存储介质 探测单元 图像 序列
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