一种柱状缺陷三维成像方法、设备及存储介质

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一种柱状缺陷三维成像方法、设备及存储介质
申请号:CN202511391198
申请日期:2025-09-26
公开号:CN120992765A
公开日期:2025-11-21
类型:发明专利
摘要
本申请提供一种柱状缺陷三维成像方法,涉及无损检测技术领域,通过在待测物件表面边缘布置若干接收传感器围成检测区域,并将若干激发传感器布置在检测区域内,在保持较好检测能力的同时,减少了传感器数量和通道组合数量,提高了数据采集与处理的效率,降低了检测成本。归一化处理步骤确保了不同通道信号在幅值上的一致性。声时修正步骤通过对激发信号传播时间进行精确修正,提升了延时计算的准确性,使得深部缺陷和复杂缺陷边界的定位更加可靠。最后,通过采用全聚焦算法对检测区域内的每个像素点独立延时并叠加聚焦,实现了动态聚焦和全局成像,避免了传统聚焦方法对焦点位置的依赖,能够完整、清晰地重建柱状缺陷的三维形态特征。
技术关键词
柱状缺陷 像素点 三维成像方法 待测物件 信号 三维超声图像 传感器布置 聚焦算法 无损检测技术 聚焦方法 处理器 坐标 矩阵 网格 幅值 终端设备 存储器
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