基于扫描电镜检测的瓷绝缘子微缺陷智能诊断系统及方法

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基于扫描电镜检测的瓷绝缘子微缺陷智能诊断系统及方法
申请号:CN202511393586
申请日期:2025-09-28
公开号:CN120894351A
公开日期:2025-11-04
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于扫描电镜检测的瓷绝缘子微缺陷智能诊断系统及方法,属于绝缘子检测技术领域。该系统包括算法选择模块、缺陷检测模块和物理尺寸计算模块;算法选择模块根据瓷绝缘子扫描电镜图片的对比度和放大倍数,选择对应的缺陷检测算法,自动选择最优缺陷检测算法;缺陷检测模块根据算法选择模块确定的缺陷检测算法,对瓷绝缘子扫描电镜图片中的孔洞和石英颗粒进行检测,获取其像素尺寸信息;物理尺寸计算模块通过提取瓷绝缘子扫描电镜图片中的比例尺信息,得到实际物理尺寸。本发明实现了瓷绝缘子微缺陷检测的自动化,解决了人工辨识效率低、准确率不高的问题,适用于不同设备及不同放大倍数下的检测场景。
技术关键词
缺陷智能诊断系统 扫描电镜 瓷绝缘子 图像亮度特征 实例分割模型 对比度 缺陷检测算法 检测孔洞 图片 石英 像素 滑动窗口 诊断方法 尺寸 模块 物理
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