一种基于人工智能的电子元件性能数据监测方法及系统

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一种基于人工智能的电子元件性能数据监测方法及系统
申请号:CN202511413901
申请日期:2025-09-29
公开号:CN120873770A
公开日期:2025-10-31
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于人工智能的电子元件性能数据监测方法及系统,本发明涉及人工智能技术领域。步骤一:数据采集:利用先进的传感器技术和数据采集算法,从电子元件中实时采集电压、电流、温度等关键性能参数,这些原始数据构成了性能数据集的基础;数据预处理:对采集到的原始数据进行清洗、去噪和归一化处理,以提高数据的准确性和可比性,预处理后的数据更加适合后续的特征提取和数据分析,通过设计高效的通信协议和数据传输算法,系统能够确保电子元件的性能数据实时、准确地传输到监测中心,这大大降低了数据传输的延迟,使得监测中心能够迅速获取到最新的性能数据,从而及时对电子元件的状态进行评估和预警。
技术关键词
数据监测方法 电子元件 数据采集算法 关键性能参数 数据传输算法 机器学习算法 远程监控中心 传感器技术 人工智能算法 数据预处理算法 异常数据 无损压缩算法 保护数据安全 后续数据分析 支持向量机算法 数据监测系统 非对称加密算法 数据分析算法 算法演示
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