基于主动泄放与分段控制的电流测试放电方法及系统

本发明提供一种基于主动泄放与分段控制的电流测试放电方法及系统，方法包括：在芯片电流测试完成后，监测储能电容的电压；当所述电压大于第一阈值时，进入恒流泄放模式，在所述恒流泄放模式下，根据所述电压值调节MOS管栅极电压，维持泄放电流恒定为设定值；继续监测所述储能电容的电压，当电压小于第一阈值且大于第二阈值时，切换至指数衰减模式，在所述指数衰减模式下，继续调节所述MOS管栅极电压；当电压小于所述第二阈值时关闭所述MOS管，完成放电过程。通过恒流泄放和指数衰减两阶段的精确控制，有效改善传统放电方式存在的能量释放不均匀、瞬态冲击大、放电时间长等技术问题。