一种用于存储芯片最终测试的小型测试机台

本发明涉及存储芯片测试技术领域，具体公开了一种用于存储芯片最终测试的小型测试机台，包括：插座模块；温控组件。高温和低温模拟测试时，由于换热板的尺寸大小不一，且气腔的容积相等，这样尺寸较大的换热板交换热量效率较高，这样对应的气腔内的温度就相对较低（高温空气时）或相对较高（低温空气时），这样就可以同时设置不同温度梯度的待测环境，当需要模拟温度骤变时，只需要快速移动高温箱或低温箱即可，这样就可以使温差相差较大的空气与待测芯片接触，从而实现在温度骤变时对芯片进行测试，这样可以模拟实际使用环境，从而提高测试结果的准确性和可靠性。