光学邻近校正方法、电子设备及存储介质

AITNT
正文
推荐专利
光学邻近校正方法、电子设备及存储介质
申请号:CN202511438235
申请日期:2025-10-09
公开号:CN120891695A
公开日期:2025-11-04
类型:发明专利
摘要
本公开涉及光学邻近校正方法、电子设备及存储介质。该方法包括:确定由初始版图切分成的子版图中较高优先级的第一子版图中图形轮廓和较低优先级的第二子版图中与第一子版图相邻的预定范围内图形轮廓的切割位置,以将各个图形轮廓切割成多个第一可移动线段和多个第一可移动点;迭代地偏移第一可移动线段和第一可移动点,直至最终偏移第一偏移量时将第一子版图校正为第一校正子版图;基于切割位置对第二子版图的图形轮廓进行偏移以生成第二校正子版图。本公开的方案能显著改善版图边界处的不连续现象。
技术关键词
线段 光学邻近校正方法 轮廓 临时存储区域 版图图形 光强 设备执行动作 电子设备 处理器 可读存储介质 网格 仿真模型 间距 指令 拐角 信号 存储器 计算机
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号