基于数学物理相结合的光器件参数测量方法、介质及系统

本发明涉及一种基于数学物理相结合的光器件参数测量方法、介质及系统，涉及光电测试技术领域，其包括：建立光器件的物理场仿真模型并获得端口电磁场分布；利用波导模式正交性对所述端口电磁场进行表面积分，得到各端口的频域复振幅；依据所述频域复振幅计算散射矩阵，提取光器件参数。本发明提供的光器件参数测量方法，其提取的参数既能反映光器件的物理特性，又能通过数学算法进行精确的拟合和优化，从而提高了参数提取的准确性和效率。