数值孔径测量方法、设备及系统

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推荐专利
数值孔径测量方法、设备及系统
申请号:CN202511447297
申请日期:2025-10-11
公开号:CN120927253B
公开日期:2026-01-02
类型:发明专利
摘要
本申请实施例提供一种数值孔径测量方法、设备及系统。该方法包括获取待测光学元件在多个位移点的位移量和功率值,多个位移点是待测光学元件基于预设步长移动至的位置点,预设步长小于或等于预设值,预设值是根据所述待测光学元件的光斑直径确定的,待测光学元件的移动方向与激光器发射光束的方向相平行,功率值为待测光学元件在对应位移点接收到的光束的功率值,根据多个位移点的位移量和功率值进行拟合计算,确定待测光学元件的目标数值孔径。本申请实施例提供的方法,通过基于小步长多步移动,采集多个位移点的功率值,进而通过拟合算法,准确计算待测光学元件的目标数值孔径,从而使得精度提升4倍,且支持实时中断。
技术关键词
光学元件 数值孔径测量方法 功率值 光学平台 光电限位开关 激光器 光束 电压补偿 电流值 驱动模组 指令 拟合算法 功率计 光斑 信号 控制模块 精度
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