基于多维度数据融合的GPU芯片良率预测方法及系统

本发明涉及芯片良率预测技术领域，具体为基于多维度数据融合的GPU芯片良率预测方法及系统，包括：首先获取GPU芯片制造过程中多维度数据；接着基于工艺流对所述多维度数据进行时序校准与对齐，并利用隐式特征交互技术生成高阶交互特征；然后通过良率瓶颈投影生成多维异常关联向量；随后基于多维异常关联向量和制造过程节点生成局部风险值，并构建全局良率图谱；最后构建异常传播与累积计算框架，沿着制造过程节点计算得到累积风险值，并通过全局损伤投影得到最终的GPU芯片良率预测值。本发明通过对多维度制造数据进行时序融合与特征交叉，并构建全局良率图谱和计算异常的传播与累积风险，实现了GPU芯片良率预测。