一种基于知识图谱的磁轭叠片工艺参数仿真优化方法及系统

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一种基于知识图谱的磁轭叠片工艺参数仿真优化方法及系统
申请号:CN202511460547
申请日期:2025-10-14
公开号:CN120930436A
公开日期:2025-11-11
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于知识图谱的磁轭叠片工艺参数仿真优化方法及系统,属于工艺仿真技术领域,所述方法包括:构建磁轭叠片数据库,用于存储磁轭叠片仿真的相关数据;根据所述磁轭叠片数据库中的数据构建知识图谱库;通过张量分析和多物理场耦合构建分析优化算法,并结合磁轭叠片数据库与知识图谱库,为仿真设计提供前置的分析框架,所述分析优化算法包括张量分析‑多物理场耦合数学模型和知识图谱协同机制;将知识嵌入张量中的数据作为输入,进行有限元仿真,根据新的仿真结果,对知识嵌入张量进行更新,形成新的知识嵌入张量数据。本发明通过应用专家经验知识,提高了设计质量和效率。
技术关键词
仿真优化方法 磁轭叠片 叠片工艺 物理场相互作用 构建知识图谱 数学模型 参数 知识图谱库 工艺仿真技术 推理规则 知识图谱数据 命名实体识别 机制 算法 关系
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