一种芯片调试系统与方法

本发明提出一种芯片调试系统与方法，平台调试控制器监测目标开发板的电源轨状态，在确定待测芯片上电成功后，监测中央处理器的状态，在确定中央处理器启动成功并完成操作系统加载后，向上位机反馈待测芯片启动成功；上位机在待测芯片启动成功后，向平台调试控制器发送第一类日志请求，其中，第一类日志请求包括第一类目标事件标识；平台调试控制器将第一类日志请求发送给中央处理器，并将中央处理器反馈的第一类目标日志反馈给上位机；上位机根据第一类目标日志对中央处理器进行调试分析，确定中央处理器是否通过调试。通过平台调试控制器自动对待测芯片的相关信息进行采集，并提供给上位机进行分析，降低人力成本，提升调试效率。