基于多模态特征融合与动态优化的集成电路热点检测方法

本发明提供一种基于多模态特征融合与动态优化的集成电路热点检测方法，涉及集成电路技术领域，包括通过获取多模态特征数据，执行递进式分块聚类提取多尺度特征，利用多头注意力机制融合特征，构建热点特征图谱，结合空间自相关分析确定热点区域，并基于形态演化与能量演化序列的同步化分析优化检测结果。本发明能够提高热点检测的准确性和鲁棒性，降低误检率，有效识别复杂布局中的潜在热点区域。