半导体芯片分类系统及半导体芯片分类方法

本申请提供了一种半导体芯片分类系统及半导体芯片分类方法，该半导体芯片分类系统包括测试机台、生产管理系统、存储器和分选机台。测试机台用于对半导体芯片进行测试，并对半导体芯片进行在线初步分类。分选机台根据存储器生成的第一文本信息进行离线二次分类。本申请中，分选机台可以与测试机台设置在不同的空间，这样分选机台的第二下料区空间可以增大，第二下料区的数量可以增加，从而可以满足更多规格的等级分类，满足用户的测试需求与分类需求。并且，分选机台的离线二次分类过程不会影响测试机台的在线测试与产出，能够保证测试机台的测试效率，降低测试成本。