摘要
本申请涉及半导体芯片的测试技术领域,尤其涉及一种LED显示屏接收卡控制芯片的FT测试系统,包括测试模块库、数据采集单元、状态评估单元以及测试流程调度单元。本申请实现了对不同质量水平芯片的个性化测试,对严重失效芯片能够快速剔除,节省宝贵的测试机时;对性能优异的芯片可以优化测试路径,缩短测试周期;对疑似存在问题的亚健康芯片,则能自动进入更严格的验证流程,从而在整体上提升了测试效率和质量保证水平。
技术关键词
LED显示屏接收卡
故障特征
待测芯片
数据采集单元
数据接口模块
制造执行系统
控制芯片
子系统
信号完整性测试
数据通信测试
特征提取模块
压力测试模块
电子
评估芯片
数据存储单元
识别码
曲线特征
系统为您推荐了相关专利信息
故障诊断方法
前馈神经网络
多头注意力机制
序列
编码器
配电网故障预警方法
线路
粒子群算法
节点处
极值
气力输送系统
模型降阶方法
动态滑动窗口
非线性
降阶模型