摘要
本申请涉及半导体芯片的测试技术领域,尤其涉及一种LED显示屏接收卡控制芯片的FT测试系统,包括测试模块库、数据采集单元、状态评估单元以及测试流程调度单元。本申请实现了对不同质量水平芯片的个性化测试,对严重失效芯片能够快速剔除,节省宝贵的测试机时;对性能优异的芯片可以优化测试路径,缩短测试周期;对疑似存在问题的亚健康芯片,则能自动进入更严格的验证流程,从而在整体上提升了测试效率和质量保证水平。
技术关键词
LED显示屏接收卡
故障特征
待测芯片
数据采集单元
数据接口模块
制造执行系统
控制芯片
子系统
信号完整性测试
数据通信测试
特征提取模块
压力测试模块
电子
评估芯片
数据存储单元
识别码
曲线特征