一种基于智能算力算法的电路封装测试系统及方法

本发明公开了一种基于智能算力算法的电路封装测试系统及方法，涉及电路封装测试技术领域，该方法通过调取历史测试数据，筛选出含有异常数据的第一目标测试节点，并构建目标参数数据组；计算第一测试节点的平均异常频次和信号偏向比，并计算故障影响因子来确定第二目标测试节点；预测第二目标测试节点的故障风险概率，进而根据故障风险概率，对测试路径进行动态调控，对高风险测试节点进行优先测试；解决了传统固定测试流程适配性差、人力与时间成本高的问题，提升了电路封装测试效率。