一种基于局部共享期望数据比较器的芯片测试系统

本申请涉及集成电路设计技术领域，特别是涉及一种基于局部共享期望数据比较器的芯片测试系统，该系统将芯片的存储器划分为多个存储器组，单个存储器组中的存储器共享一个共享比较器，相较于每个存储器配置对应的比较器，有效减少了比较器的总数量，降低芯片的面积开销，相较于所有存储器共享控制器侧的同一比较器，共享比较器设置于存储器组侧，存储器与对应共享比较器的数据路径较短，避免系统时序收敛困难，并减少控制器附近的布线密集程度，避免了布局布线阻塞。