用于芯片测试的方法、装置、设备和介质

本发明涉及芯片测试技术领域，公开了用于芯片测试的方法、装置、设备和介质，方法包括：基于芯片测试的配置需求，对多个待测试芯片中的寄存器，执行写入操作；基于写入操作执行前，目标寄存器的状态值在多个待测试芯片间的对比结果，和/或，基于写入操作执行后，目标寄存器的状态值在多个待测试芯片间的对比结果，确定目标寄存器的类型，寄存器的类型包括，静态配置寄存器和动态配置寄存器；生成与寄存器的类型对应的测试向量，基于测试向量对多个待测试芯片进行测试。可以大幅降低测试时间与量产成本，同时，可以显著降低量产阶段的时间成本与设备占用成本。