一种半导体结构的制作方法

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正文
推荐专利
一种半导体结构的制作方法
申请号:CN202511492160
申请日期:2025-10-20
公开号:CN120977868B
公开日期:2025-12-26
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种半导体结构的制作方法,属于半导体技术领域。所述制作方法至少包括以下步骤:提供一衬底;在所述衬底上形成待刻蚀层;在所述待刻蚀层上形成无定形碳层;将沉积无定形碳层后的衬底放入等离子腔室内,在预设温度和预设功率下,通入氢气和氩气预设时间,对无定形碳层进行等离子处理,形成疏水层,疏水层包括‑CH3基团;对疏水层进行清洗;在疏水层上形成抗反射层;在抗反射层形成图案化光刻胶层,以图案化光刻胶层为掩膜,刻蚀抗反射层、疏水层、无定形碳层和待刻蚀层。通过本发明提供的一种半导体结构的制作方法,能够在无定形碳层上形成疏水层,避免清洗过程中在无定形碳层表面上残留水分,提高芯片的性能以及良率。
技术关键词
半导体结构 图案化光刻胶 无定形碳层 衬底 掩膜 功率 氢气 高纯水 基团 去离子水 清洗液 气体 良率 氦气 氮气 芯片
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