摘要
本发明涉及芯片测试技术领域,公开了晶圆测试数据传输方法、装置、计算机设备及存储介质,晶圆测试数据传输方法包括:获取每片晶圆待传送数据量以及期望传送区块数据量;根据所述待传送数据量与所述期望传送区块数据量得到划分除数;根据所述划分除数对晶圆进行区块划分并得到需要传送的区块数量;获取需要传输的区块上的其中一个晶粒的测试数据并发送至设计技术协同优化系统进行分析。本发明能够自动实现对晶圆进行划块处理,并仅仅将晶圆中代表区块的晶粒的量测值发送至设计技术协同优化系统进行数据分析,能够在保证检测晶圆特征分布的同时,降低设计技术协同优化系统的处理负担。
技术关键词
测试数据传输方法
协同优化系统
传送数据
计算机设备
晶圆
芯片测试技术
数据传输装置
坐标
代表
处理器
存储器
表达式
负担
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