SPICE模型中局部失配偏移率的测试结构及方法

本申请公开了一种SPICE模型中局部失配偏移率的测试结构及方法，测试结构包括：第一晶体管和第二晶体管，所述第一晶体管和第二晶体管分别包括第一源端、第一漏端、栅端和衬底端四个测试端，其中，所述第一晶体管和第二晶体管还分别包括：第二源端和第二漏端两个测试端。本申请提供的SPICE模型中局部失配偏移率的测试结构及方法，通过将测试结构中的两个晶体管分别设置6个测试端，从而提高测试的准确性。