芯片、芯片测试系统、方法及电子设备

本申请公开了一种芯片、芯片测试系统、方法及电子设备，涉及芯片技术领域。该芯片包括：输入端口、解串器电路、扫描输入电路和扫描链电路。在上述芯片中，对于扫描输入电路的各个输入端，其均支持通过同一输入端口（经解串器电路转换后）输入数据，以将测试所需的数据给到扫描链电路。因此，上述芯片仅需对外提供一个输入端口便支持测试扫描链电路中的任一扫描链，实现成本较低。