摘要
本申请涉及芯片测试技术领域,特别是涉及一种上电复位监测电路,该电路通过上电复位监测电路,使得上电复位信号的变化情况与复位管脚的电平变化情况相对应,从而能够通过监测复位管脚的电平变化情况来监测芯片内部无法直接监测到的上电复位信号,能够获取到更加准确的芯片上电复位信号的撤离时间点,进而提高芯片测试模式进入的可靠性。
技术关键词
复位管脚
监测电路
上电复位电路
电平
三态门
芯片测试模式
反相器
芯片测试技术
焊盘
信号
通用接口
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电阻
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