一种多模式耦合的NAND存储芯片测试系统

本发明涉及存储芯片测试技术领域，具体为一种多模式耦合的NAND存储芯片测试系统，系统包括忙信号采集模块、模式切换控制模块、驻留时间判定模块、异常片段归档模块、片段标签管理模块。本发明中，通过对信号占空比的统计与时间索引的结合实现对状态的精确捕捉，在电平由高到低的转换瞬间记录时序参数并形成模式切换标记，使不同测试模式下的时间序列被完整追踪，对高电平驻留时间的累加识别潜在异常区间，并在归档阶段将时间区间与模式标识进行关联和时序容限分离，使异常片段得到连续独立归档并附带可追溯时间标签，实现对潜在异常行为的及时识别与记录，提升对复杂模式下NAND芯片性能波动及时序异常的捕获能力，增强测试数据的完整性与可追溯性。