用于表面缺陷识别的多轴检测方法

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用于表面缺陷识别的多轴检测方法
申请号:CN202511535901
申请日期:2025-10-27
公开号:CN121004122A
公开日期:2025-11-25
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种检测效率高的用于表面缺陷识别的多轴检测方法,包括步骤:第一变位模组驱动原始料盘的第i排槽位移动至电爪下方,第二变位模组驱动电爪抓取第i排槽位中奇数位的待检测物并移动至第一相机的成像区域,第一相机对电爪夹持的待检测物拍照;视觉检测模块接收并处理第一相机输出的图像,输出缺陷识别结果;第二变位模组驱动电爪将有缺陷的待检测物放入异常件料盘;第二变位模组驱动电爪移动至原始料盘上方,控制电爪将合格的待检测物放入原始料盘的原位;第二变位模组驱动电爪抓取第i排槽位中偶数位的待检测物并移动至第一相机的成像区域;然后重复步骤,即完成第i排槽位及每一排槽位中所有待检测物的检测。
技术关键词
视觉检测模块 模组 相机 拍照组件 动力组件 料盘组件 曲面零件 图像 神经网络模型 成像 控制模块 算法模块 检测设备 原位
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