一种印染缺陷检测方法及系统

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一种印染缺陷检测方法及系统
申请号:CN202511545521
申请日期:2025-10-28
公开号:CN121033020A
公开日期:2025-11-28
类型:发明专利
摘要
本申请涉及机器视觉领域,公开了一种印染缺陷检测方法及系统,方法包括:通过布置在生产线上的多角度成像装置对印染物表面进行图像采集,得到包含多视角的原始图像集合;对原始图像集合进行对齐处理,得到统一坐标系下的配准图像集合;根据配准图像集合生成三维点云模型并得到印染物表面的几何结构特征;将配准图像集合中的颜色信息投影到三维点云模型得到三维色彩分布模型;对三维色彩分布模型中的像素点进行分组得到色差区域的边界特征;根据色差区域的边界特征,分析色差区域在三维色彩分布模型中的坐标范围,确定缺陷的空间位置坐标。通过上述技术方案,避免几何起伏导致的颜色信息投影失真,提高色差区域的识别准确率。
技术关键词
三维点云模型 色差 多角度成像装置 图像 边界特征 密集特征 生成三维点云 颜色 像素点 空间坐标信息 色彩 缺陷检测方法 关键特征点 特征描述符 坐标系 校正 多视角 矩阵 标识符
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