一种键盘及键帽生产的材质缺陷检测方法

本发明涉及计算机视觉技术领域，尤其涉及一种键盘及键帽生产的材质缺陷检测方法，该方法获取待检测键盘及键帽的初始图像和灰度图像；根据灰度图像中像素点的灰度差异，在灰度图像中获取疑似缺陷区域；针对任一疑似缺陷区域，根据初始图像中对应区域的像素点的颜色特征，以及任一疑似缺陷区域的像素点的分布特征和纹理特征，获取任一疑似缺陷区域中每一像素点的缺陷系数；利用灰度图像中每一像素点的缺陷系数，获取每一像素点的自适应小尺度权重和自适应大尺度权重；根据每一像素点的自适应小尺度权重和自适应大尺度权重，利用Retinex算法，获取增强图像，提高键盘及键帽生产的材质缺陷检测的准确性。