芯片验证方法、装置、电子设备和存储介质

本申请提供一种芯片验证方法、装置、电子设备和存储介质，涉及芯片设计验证技术领域，包括：同步运行待验证芯片设计和芯片验证模型执行预设缓存行处理方法；分别获取待验证芯片设计的第一输出信号和第一额外信息，以及芯片验证模型的第二输出信号和第二额外信息；第一额外信息用于表征待验证芯片设计中缓存行的中间状态信息；第二额外信息用于表征芯片验证模型中缓存行的中间状态信息；确定待验证芯片设计的功能验证结果。本申请提供的方法和装置，通过比对输出信号和额外信息，能够在芯片内部逻辑状态发生偏离的早期阶段及时地发现设计缺陷，极大地提高了验证的完备性和精确度，提升了整体的验证效率。