半导体工厂用电负荷预测方法、系统、装置及介质

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半导体工厂用电负荷预测方法、系统、装置及介质
申请号:CN202511555069
申请日期:2025-10-29
公开号:CN121031915A
公开日期:2025-11-28
类型:发明专利
摘要
本发明半导体工厂用电负荷预测方法、系统、装置及介质,方法包括:获取半导体工厂的电网系统的历史用电负荷数据;根据所述历史用电负荷数据确定滞后阶数,并根据滞后阶数筛选输入特征;采用树模型算法对所述输入特征和未来一段时间的用电量进行拟合,构建所述预测模型;通过所述预测模型对所述电网系统的未来电负荷数据进行预测并输出结果。本发明通过滞后相关性进行特征筛选,通过树模型的特征重要性对特征进行二次筛选,提升了自回归预测准确性。
技术关键词
负荷预测方法 半导体 模型算法 电网系统 序列 负荷预测装置 负荷预测系统 可读存储介质 数据 程序 数值 模块 变量 计算机 处理器 存储器
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