基于掩星STEC数据的电离层TEC地图反演方法及系统

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基于掩星STEC数据的电离层TEC地图反演方法及系统
申请号:CN202511556856
申请日期:2025-10-29
公开号:CN121028125A
公开日期:2025-11-28
类型:发明专利
摘要
本发明公开一种基于掩星STEC数据的电离层TEC地图反演方法,包括:获取Level‑1b级别掩星事件STEC数据,并转换得到多通道图像特征;提取与STEC数据对应时刻和范围的经验模型TEC地图,并将提取的经验模型TEC地图和多通道图像特征一起输入训练后的卷积神经网络模型,输出对应时刻和区域的电离层TEC地图及系统。本发明通过将掩星观测信息转换为多通道图像信息,构建附加先验背景场作为特征输入的卷积神经网络模型,首次实现由Level‑1b级别掩星事件STEC数据产品直接反演全球或区域TEC地图。
技术关键词
卷积神经网络模型 地图 反演方法 非对称卷积神经网络 多通道 数据 图像 多层卷积神经网络 分支 格网 反演设备 反演系统 方位角 坐标 标记 计算机 处理器 指令
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