自动生成芯片事件统计模块的方法、电子设备和介质

本发明涉及芯片技术领域，尤其涉及一种自动生成芯片事件统计模块的方法、电子设备和介质，方法包括：步骤S1、根据预设的数据结构设置目标事件统计模块生成信息；步骤S2、根据目标事件统计模块对应的待测设计标识和计数器数量，生成目标事件统计模块架构；步骤S3、根据目标事件统计模块对应的信号参数列表生成控制模块和功能模块，并在控制模块和目标事件统计架构之间生成控制信号，在功能模块和目标事件统计架构之间生成功能信号，在目标事件统计架构和待测芯片设计之间生成事件信号，生成完整的目标事件统计模块。本发明降低了生成芯片事件统计模块的成本，提高了生成芯片事件统计模块的效率和准确性。