工艺特征识别方法、装置、设备、存储介质和程序产品

本发明涉及计算机技术领域，提供一种工艺特征识别方法、装置、设备、存储介质和程序产品。其中方法包括：将三维模型输入至工艺特征识别模型，得到工艺特征识别模型输出的识别结果；针对任一工艺特征，基于识别结果，确定工艺特征包括的各底面的几何类型；基于各底面的几何类型，分别确定各底面的参数计算方式；基于各底面的参数计算方式，计算工艺特征的几何参数。本发明可以自动计算几何参数，从而提高几何参数的计算效率，并降低几何参数的计算成本；且针对不同底面的几何类型确定对应的参数计算方式，以更加准确计算工艺特征的几何参数，进而提高几何参数的计算准确性。