一种SOC芯片测试装置

本实用新型公开一种SOC芯片测试装置，包括底座和放置台，本实用新型通过在底座顶部设置基台，放置台位于基台顶部，放置台顶部设置有吸盘，放置台侧壁开设有气槽，气槽与吸盘连通，气槽内部设置有活塞，活塞侧壁安装有延伸板，延伸板另一端伸出气槽并安装有拉板，在使用时，首先将需要固定的SOC芯片放置在吸盘顶部，拉动拉板带动活塞向气槽外部移动，此时气槽内部负压，吸盘产生吸力并对SOC芯片进行吸附，方便对不同规格尺寸的SOC芯片进行夹持固定。