用于检测SNP位点组合的产品在检测玉米抗锈基因RppK或玉米抗锈性状中的应用

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用于检测SNP位点组合的产品在检测玉米抗锈基因RppK或玉米抗锈性状中的应用
申请号:CN202410712247
申请日期:2024-06-04
公开号:CN118480627A
公开日期:2024-08-13
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种用于检测SNP位点组合的产品在检测玉米抗锈基因RppK或玉米抗锈性状中的应用,涉及植物分子育种技术领域。本发明提供了用于检测SNP位点组合的产品在检测玉米抗锈基因RppK或者玉米抗锈性状中的应用,其中SNP位点组合包括(A)组或者(A)组的连锁位点。经发明人研究发现,本发明筛选得到的SNP位点组合能够用于鉴定玉米抗锈基因RppK,进而判断玉米的表型,相较于现有技术更加高效、直接,同时避免单标记检测失败带来的误差。在筛选相关的SNP位点后,通过连锁不平衡分析,将抗锈基因RppK的鉴定锚定在了基因芯片上,为以后多基因、多性状的鉴定,以及实现优良基因聚合等提供了很大可能。
技术关键词
检测SNP位点 SNP位点组合 玉米自交系 植物分子育种技术 高密度基因芯片 序列 引物 样本 物理 生物材料 试剂盒 标记 误差
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