一种硬币缺陷检测方法及装置

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一种硬币缺陷检测方法及装置
申请号:CN202410712837
申请日期:2024-06-04
公开号:CN118671095A
公开日期:2024-09-20
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种硬币缺陷检测方法及装置,涉及人工智能技术领域,可用于金融领域或其他技术领域。所述方法包括:对硬币集合进行第一缺陷类型检测,得到第一缺陷类型检测结果;对所述目标硬币集合进行第二缺陷类型检测,得到第二缺陷类型检测结果;将所述第一目标硬币子集合中的硬币作为存在残破缺陷或污损缺陷的硬币,相应的将所述第二目标硬币子集合中的硬币作为存在污损缺陷或残破缺陷的硬币。所述装置执行上述方法。本发明实施例提供的硬币缺陷检测方法及装置,能够提高硬币缺陷检测效率和准确性。
技术关键词
硬币 缺陷检测方法 划痕缺陷 缺陷检测装置 人工智能技术 处理器 样本 算法 可读存储介质 存储器 电子设备 金融 计算机
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