生成学习模型的方法和用于预测半导体装置结构的设备

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生成学习模型的方法和用于预测半导体装置结构的设备
申请号:CN202410713503
申请日期:2024-06-04
公开号:CN119089945A
公开日期:2024-12-06
类型:发明专利
摘要
提供了生成学习模型的方法和用于预测半导体装置结构的设备。所述设备包括:存储设备,被配置为存储学习模型,学习模型被配置为预测半导体装置的结构;以及存储器,被配置为存储至少一个代码,和至少一个处理器,可操作地连接到存储器并且被配置为执行至少一个代码以:将从半导体装置测量的非破坏性计量数据输入到学习模型中,并且基于学习模型预测半导体装置的结构,其中,学习模型使用训练数据被训练,训练数据包括作为非破坏性计量数据的第一数据和作为结构计量数据的第二数据,第二数据是第一数据的参考数据,并且其中,训练数据基于具有作为参考轴的与第一数据对应的第一轴和与第二数据对应的第二轴的空间中的第一投影数据的相似性被细化。
技术关键词
预测半导体装置 数据 线性回归模型 处理器 存储器 存储设备 成分分析 基础 矩阵
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