芯片的数据计算校验装置、数据计算校验方法和芯片

AITNT
正文
推荐专利
芯片的数据计算校验装置、数据计算校验方法和芯片
申请号:CN202410721712
申请日期:2024-06-04
公开号:CN118606080A
公开日期:2024-09-06
类型:发明专利
摘要
本申请提出一种芯片的数据计算校验装置、数据计算校验方法和芯片,其中,芯片的数据计算校验装置包括:缓冲区,用于缓存计算任务,并为所述计算任务设置索引标识;计算核,用于计算所述计算任务,并对应获取计算结果,所述计算结果与所述计算任务对应的索引标识绑定;校验模块,用于根据所述索引标识,从所述计算任务中对应确定目标任务;并基于所述目标任务,对所述计算结果进行校验。本申请实施例的技术方案可以避免在计算任务更新阶段由于计算任务与计算结果的对应关系错误而导致误判,从而在保证计算核可以持续计算的情况下,能够避免产生算力损失,提升校验的准确率。
技术关键词
索引 标识 校验装置 校验方法 多路复用器 芯片 校验模块 输入端 打包模块 数据 输出端 阶段 关系
系统为您推荐了相关专利信息
1
一种远程控制Lua虚拟机的方法、装置、设备及存储介质
控制虚拟机 虚拟机控制 输入接口 文件系统 参数
2
基于智能体图谱的多源数据分析预警方法、系统和介质
数据分析预警 预警模型 图谱 关联特征数据 协作关系
3
工业控制系统的组件的可信检测方法、装置、设备及存储介质
子组件 工业控制系统 零知识证明 可信检测方法 DBSCAN算法
4
基于结合点云关联和相偏特性的点云校正方法
校正方法 速度 结合点 发射天线 多输入多输出MIMO天线
5
有源RIS辅助无小区MIMO系统中最大化和速率的优化方法、设备和介质
无小区MIMO系统 优化波束赋形 接入点 信道状态信息 速率
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号