MPI自动控制测试系统及方法

本发明提供了一种MPI自动控制测试系统及方法，包括：将光信号输入到测试系统的输入接口，通过99：1耦合器将所述光信号分为主路信号和分路信号；测量主路信号光功率，调整主路信号偏振状态；测量分路信号光功率，调整分路信号偏振状态；根据主路信号光功率、分路信号偏振状态和所需要测试的MPI大小，对调整好偏振状态的分路信号加上衰减；将调整好偏振状态的主路信号和衰减后的分路信号通过50:50的耦合器进行耦合。本发明通过采用保偏器件，通过偏振控制器将两路信号光对准各自保偏器件的工作轴(快轴或慢轴)，然后利用保偏耦合器来耦合两路光信号，从而达到了对准两路光信号偏振态的目的。